Neutralteilchen — Als Neutralteilchen bezeichnet man in der Plasmaphysik elektrisch ungeladene Bestandteile eines Plasmas. Es kann sich hierbei um Atome (z. B. bei Edelgasen), um Moleküle oder freie Radikale handeln. In typischen Niederdruckplasmen sind die… … Deutsch Wikipedia
Sekundär-Neutralteilchen-Massen-Spektrometrie — (SNMS) ist ein Analyseverfahren der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Ionen Massen Spektrometrie (SIMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den Ionenstrahltechniken. Dabei wird die… … Deutsch Wikipedia
Sekundär-Neutralteilchen-Massenspektrometrie — Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS) ist ein Analyseverfahren der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Ionen Massen Spektrometrie (SIMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS)… … Deutsch Wikipedia
SNMS — Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS) ist ein Analyseverfahren der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Ionen Massen Spektrometrie (SIMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS)… … Deutsch Wikipedia
Glimmentladung — Eine Glimmentladung ist eine Gasentladung, die selbstständig zwischen zwei an einer Gleich oder Wechselspannungsquelle liegenden kalten Elektroden bei niedrigem Gasdruck auftritt. Die Farbe des Glimmens hängt vom Gas ab, für Neon zum Beispiel ist … Deutsch Wikipedia
Nichtthermische Plasmen — sind Plasmen, die sich nicht im thermischen Gleichgewicht befinden, also z. B. sich die Temperaturen der enthaltenen Teilchensorten (Neutralteilchen, Ionen, Elektronen) signifikant unterscheiden. Thermisches Ungleichgewicht kann in technischen… … Deutsch Wikipedia
Oberflächenanalytik — Oberflächenchemie (engl. surface chemistry, surface science) ist ein Teilgebiet der Physikalischen Chemie, bei dem die chemischen und strukturellen Vorgänge untersucht werden, die sich an Grenzflächen, meist fest/gasförmig, abspielen. Dabei… … Deutsch Wikipedia
SIMS — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia
Sekundärionen-Massenspektroskopie — Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS) ist eine Methode der Oberflächenphysik/Oberflächenchemie und gehört wie Sekundär Neutralteilchen Massen Spektrometrie (SNMS), Rutherford Backscattering (RBS) und Low Energy Ion Scattering (LEIS) zu den… … Deutsch Wikipedia